키슬리 인스트루먼트, 고속 대량 웨이퍼 생산 시험용 반도체 시험 소프트웨어 업그레이드 발표
2011-11-18
편집부
키슬리 인스트루먼츠는 업계에서 많은 인기를 얻고 있는 KTE 반도체 시험 소프트웨어의 업그레이드 버전을 발표했다. KTE Version 5.3은 현재 속도가 가장 빠르고 경제적인 공정 제어 감시 솔루션인 S530 파라메트릭 시험 시스템과 함께 동작하도록 설계되었다.
KTE는 키슬리의 기존 파라메트릭 시험 시스템을 통해 전 세계 수백 개의 반도체 팹에서 사용되어온 강력한 시험 개발 및 실행 소프트웨어 플랫폼이다. 업계에서 입증된 이러한 동일 소프트웨어 플랫폼이 키슬리 S530 시험 시스템에서도 적용됨에 따라 가장 까다로운 생산 환경에서도 유연한 시험 계획 개발과 빠른 속도의 시험 실행이 가능해졌다. 기존 측정 루틴들이 S530으로 쉽게 이식될 수 있고, 기존 테스터와 신규 S530 시스템간 동일한 시험 계획이 공유될 수 있으므로 특히 기존 키슬리 S400과 S600 시리즈 파라메트릭 테스터 사용자들은 S530의 KTE 버전 5.3 혜택을 누릴 수 있다.
S530으로 KTE 시험 개발과 실행 환경을 확장시키면 30년에 걸친 키슬리의 파라메트릭 시험 코드 개발 현장 경험과 시장에서 가용한 가장 빠른 최첨단 시스템 하드웨어를 동시에 누릴 수 있다. S530 계측기는 공정 제어 감시 같은 파라메트릭 시험 애플리케이션이 요구하는 빠르고 광범위한 측정 범위를 제공한다.
기존 시스템과 높은 호환성을 지니는 새로운 시험 시스템을 제공함으로써 자사의 파라메트릭 시험 고객 지원에 최선을 다하고 있다. 소프트웨어 호환성을 유지하려는 이러한 노력은 새롭고 빠른 테스터가 시험 플로어에 추가될 때 원만한 이전을 보장하고 팹 시험 소프트웨어 투자비를 보호해준다. 시스템 소프트웨어 연속성 보장을 위한 이러한 노력은 새로운 키슬리 파라메트릭 시험 고객에게 자신의 시험 시스템이 업계에서 입증된 소프트웨어에 기반한다는 확신을 심어줄 수 있음을 의미한다.
