애질런트가 M8190A 고속임의파형 발생기에 대한 스트리밍과 멀티채널 동기화 기능을 발표했다.
이번 새로운 기능을 통해 저관측 레이더 및 고밀도 통신 분야의 엔지니어들은 긴 플레이타임과 병렬 신호 발생으로 다중 에미터(multi-emitter)를 더 실제적으로 테스트할 수 있다. M8190A는 스트리밍과 최대 12채널을 동기화하는 기능을 결합해 엔지니어가 극한 상황에 대한 시뮬레이션을 간단하게 수행할 수 있다.

이제 엔지니어들은 한 번에 밀리초(milliseconds)의 비행 데이터 대신 비행기의 전체적인 비행을 시뮬레이션할 수 있다. 실시간 이벤트는 신호 시나리오에 영향을 주어 최대한 현실적인 테스트를 할 수 있다. M8190A는 메모리에 새로운 파형을 내려받는 동안에도 파형을 생성할 수 있으며 이전 AWG(Arbitrary Waveform Generator: 임의파형발생기)의 한계와 스트림라인 테스트를 획기적으로 개선한다. 이러한 새로운 기능이 추가되기 전, 엔지니어들은 런타임 시 AWG 신호 파형을 변경할 수 없었다.

효율적인 마진 테스트 수행
M8190A는 애질런트 특유의 ASIC(Application Specific Integrated Circuit: 맞춤형반도체)을 통해 즉석에서 진폭과 주파수, 위상을 변경할 수 있어 엔지니어가 더 이상 파라미터를 변경하기 위해 시간소요가 큰 다운로드를 수행할 필요가 없다. 또한 런타임 동안에 파라미터를 변경함으로써 더욱 효율적으로 마진(Margin)테스트를 수행할 수 있다. 레이더 테스트나 다중 에미터 시뮬레이션, 병렬-레인 테스트 등과 같은 멀티채널 지원을 필요로 하는 애플리케이션 작업을 하는 엔지니어는 새로운 M8192A 동기화 모듈(1U AXIe 유닛)을 유용하게 사용할 수 있다.

애질런트의 위르겐 벡(Jurgen Becks) 디지털 포토닉스 테스트 디비젼 제너럴 매니져는 “사용 가능한 최상의 신호 품질을 제공하는 것 외에 M8190A의 새로운 기능은 현실적인 테스트에 새로운 스핀을 제공한다”며 “이러한 기능은 전통적인 테스트 병목 현상을 극복하고 테스트의 효율성과 반복성을 증가시킨다”고 말했다. 그는 “우리의 고객은 이제 필요한 어떤 신호도 만들어 낼 수 있으며, 적합한 품질의 필요한 만큼의 많은 신호를 생성할 수 있다”고 덧붙였다. 한편 M8190A에 무한 플레이타임과 즉석에서 파라미터를 변경할 수 있는 기능이 기본 포함되지만, 기존 M8190A에서도 소프트웨어 업그레이드를 통해 추가할 수 있다. M8192A 동기화 모듈은 신규 또는 기존의 M8190A AWG에서 사용할 수 있다.