오실로스코프의 세계 선도적 제조업체인 텍트로닉스(www.tek.com)는 SATA와 SAS(Serial Attached SCSI)를 모두 아우르는 자동 적합성 및 테스트 자동화 솔루션을 발표했다. 본 솔루션은 UNH-IOL 및 SCSI 무역 협회(STA)가 정하는 SAS 적합성 테스트 범위를 포괄한다. 스토리지 시스템 설계자는 최신 TekExpress 소프트웨어를 사용하여 한 번의 버튼 조작으로 정확하고 일관적인 결과를 보장하는 테스트를 수행함으로써 설정 시간을 절약하고 많은 시간이 소모되는 반복적인 수동 테스트의 필요성을 없앨 수 있다.

  SAS는 SATA 또는 이전 세대의 병렬 인터페이스에 비해 높은 안정성과 확장성, 향상된 속도를 제공하면서 엔터프라이즈 서버 환경을 위한 유력한 스토리지 인터페이스로 부상했다. 6Gb/s SAS 설계를 위한 트랜스미터 검증과 디버그에는 정확한 지터 및 아이 분석과 디퍼런셜 S-파라미터 특성화가 필요하다. 6Gb/s SAS 지원이 추가된 TekExpress 자동 테스트 소프트웨어는 반도체 공급업체, 드라이브 제조업체 및 OEM 시스템 제작업체에 필요한 다양한 테스트 요구 사항을 충족한다.

 데이브 슬랙(Dave Slack) 텍트로닉스 기술 솔루션 그룹 마케팅 매니저는 “고속 직렬 테스트는 상당히 복잡하기 때문에 여러 측정 장비가 필요하고, 이러한 장비들을 올바르게 설정 및 조율해야 한다. 이러한 복잡성에 속도와 효율성에 대한 요구까지 더해져 테스트 자동화 소프트웨어에 대한 강력한 수요를 이끌고 있다”며 “텍트로닉스는 2008년에 업계 최초로 SATA Gen-2를 위한 완전 자동 적합성 테스트 제품군을 출시했으며 이제 그 뒤를 이어 업계 최초로 광범위한 SAS 및 SATA 특성화 테스트를 자동화하는 솔루션을 내놓게 됐다”고 말했다.

  SAS용 TekExpress 소프트웨어는 폭넓은 물리 계층 트랜스미터 및 채널 측정 기능을 제공한다. 따라서 테스트 사양 개발을 꼼꼼하게 모니터링하기 위한 숙련된 엔지니어를 투입할 필요가 없다. 필요한 모든 테스트가 소프트웨어에 이미 완전히 구현되어 있으며 즉각 사용이 가능하기 때문이다.
 6Gb/s SAS를 위한 자동 적합성 솔루션에는 다음 테스트가 포함된다.
- Group1: OOB(out of band) 측정
- Group2: Tx 스프레드 스펙트럼 클럭(SSC) 요구 사항
- Group3: Tx NRZ 데이터 신호 전송 요구 사항 및 AC 파라미터 측정

  텍트로닉스는 3Gb/s SAS 및 6Gb/s SAS 적합성 테스트에 필요한 고성능 오실로스코프 및 신호 발생기를 제공한다. 테스트에 필요한 장비에는 10GHz 이상의 대역폭을 갖춘 실시간 오실로스코프(DSA70000 시리즈 디지털 직렬 분석기)가 포함된다. 선택 사항인 고속 직렬 신호 발생기(AWG7000 시리즈 임의 파형 발생기)를 사용하면 리시버 테스트 및 완전한 테스트 자동화가 가능하다.

  TekExpress 소프트웨어를 사용하면 SAS 및 SATA 적합성 테스트를 간단히 설정 및 실행할 수 있다. 테스트 장비는 모두 TekExpress 자동 프레임워크를 통해 제어된다. TekExpress의 그래픽 사용자 인터페이스는 일반적이고 직관적인 설정 및 테스트 워크플로를 제공한다. 테스트 벤치가 설정되고 DUT가 올바르게 연결되면 사용자는 ‘실행’ 버튼 하나만으로 선택한 SAS 또는 SATA 테스트를 수행할 수 있다. 테스트에서 세부적인 HTML 보고서와 점수 카드가 자동으로 생성된다.

이재용 기자(hades@cyberes.co.kr)