NI는 반도체 자동화 테스트에 특화된 PXI SMU 제품 라인을 출시한다고 발표했다. 새로운 NI PXIe-4143 SMU는 다중 핀 반도체 DUT의 병렬 테스트에 최적화되어 초당 60,000개의 샘플과 4개 채널을 제공(SMU 제품 중 최고의 채널 밀도)하며, 다채널 SMU 출력 범위를 150 mA에서 최대 24 V까지 제공한다. PXIe-4143 SMU는 소형 크기의 장비를 배포하는데 용이한 PXI 모듈형 계측 아키텍처를 탑재했다.
www.ni.com
<저작권자(c)스마트앤컴퍼니. 무단전재-재배포금지>
