내쇼날인스트루먼트(ni.com/korea)는 고급 자동화 테스트 애플리케이션을 위한 32채널 PXI Express 기반 디지털 계측기와 8슬롯 고대역폭 PXI Express 3U 섀시를 발표했다. NI PXIe-6544/45 전압 선택가능 디지털 파형 생성기/분석기는 각각 최고 100 및 200MHz의 클럭 속도를 제공하여 테스트 애플리케이션을 최적화한다.

  NI PXIe-6545는 660MB/s의 스트리밍 속도를 제공하는 업계에서 가장 빠른 스트리밍 디지털 테스트 제품 중 하나이다. 새로 출시된 디지털 계측기는 호스트 메모리에/로부터 대량의 데이터를 신속히 전송하는 고속 반도체 디바이스와 HD(High-Definition) 멀티미디어 구성요소의 정교한 분석을 수행한다. NI PXIe-1082 섀시는 7개의 PXI Express 주변 슬롯을 갖춘 업계 최초의 3U 8슬롯 PXI Express 섀시로서 슬롯당 최고 1GB/s와 최고 4GB/s의 전체 시스템 대역폭으로 생성기/분석기를 보완한다.

  Eric Starkloff 내쇼날인스트루먼트 테스트 마케팅 부사장은 “새로 출시된 계측기들은 보다 빠른 반도체 칩과 높은 데이터 전송 속도가 필요한 멀티미디어 디바이스를 테스트하는데 필요한 성능과 유연성을 제공하도록 내쇼날인스트루먼트의 PXI 디지털 테스트 기능을 확장했다”며 “이 PXI Express 제품의  출시로 인해 테스트 업계가 개방형의 상용 PXI 기반 솔루션으로 급격히 이동하게 될 것”이라고 설명했다.

  NI PXIe-6544/45 모듈의 고급 연산을 이용하면 ADC, DAC, 메모리 디바이스, ASIC 그리고 마이크로컨트롤러와 같이 보다 빠른 반도체 디바이스를 정확하게 자동화 시켜 테스트할 수 있다. 이 제품이 출시되기 전의 한 예로, 200MS/s DAC 테스트의 경우 고속 패턴 생성기와 오실로스코프 그리고 파워 서플라이가 필요했었다. 새로 출시된 NI PXIe-6545 생성기/분석기와 NI PXIe-1082 섀시를 이용하면 소형 크기의 소프트웨어 정의 모듈형 계측으로 특성화 및 제품 테스트를 수행할 수 있다. 고속 PXI Express 디지털 계측기와 고대역폭 섀시의 데이터 처리량은 여러 멀티미디어 디바이스뿐 아니라 최고 1080p의 60Hz HDTV 신호, LCD 화면, RF 기저대 디바이스와 HD 라디오를 테스트하는 데 이상적이다.

  NI PXIe-6544/45 모듈은 온보드 DDS(Direct Digital Synthesis) 클럭과 같은 강화된 타이밍과 동기화 기능을 포함하고 있어 DC에서 200MHz에 이르는 서브헤르츠 해상도를 제공한다. 이로써 외부 클럭을 사용하지 않으면서 추가적인 고해상도 클럭킹 디바이스와 외부 타이밍 케이블 없이도 고해상도로 데이터 생성과 수집을 클럭킹 할 수 있다. 또한 DDS는 임의 클럭 주파수가 필요한 테스트 애플리케이션을 관리하도록 돕는다.