한국내쇼날인스트루먼트는 2월 7일부터 9일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최되는 ‘SEMICON KOREA 2012’에 참가하여 반도체 재료장비업계의 혁신적인 발전을 위한 다양한 개발 솔루션을 선보일 예정이다.
한국NI는 이번 행사에서 PXI 플랫폼과 모듈형 계측기를 이용하여 자동화된 반도체 Wafer 프로빙 시스템인 PXI 기반 반도체 ATE(Automated Test Equipment) 데모를 소개한다. 또한, 반도체 공정 상의 온도와 진동상황을 아이패드를 통해 실시간으로 모니터링하는 반도체 공정 온도 및 진동 모니터링 데모를 소개할 예정이다. 그 밖에 NI FlexRIO 제품을 이용하여 구축된 고해상도의 열화상 카메라를 통해 반도체 칩과 패키지의 열 문제를 검출하는 고해상도 열화상 현미경 데모 및 LED 칩과 패키지의 전기적 특성과 광학적 특성을 NI SMU(Source Measurement Unit)을 통해 자동화 측정하는 LED Tester 데모 등을 전시할 계획이다.
또한, 한국NI의 부스(B3008)에서는 전문 어플리케이션 엔지니어의 데모 시연 및 제품 상담이 진행될 예정이다.
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