내쇼날인스트루먼트(NI)가 새로운 PPMU(per-pin parametric measurement unit) 모듈과 소스 측정 유닛(SMU) 모듈 출시와 함께 통해 반도체 특성화 및 생산 테스트를 위한 PXI 플랫폼의 기능을 확장했다.
NI의 PXIe-6556 200MHz 고속 디지털 I/O와 PXIe-4140 및 PXIe-4141 4-채널 SMU는 장비 투자 비용과 테스트 시간은 줄이고 테스트 중인 여러 디바이스에 대한 혼합 신호 측정 유연성은 증가시켰다.
PXIe-6556 고속 디지털 I/O 모듈을 이용하면 최고 200MHz로 디지털 웨이브폼을 생성하고 수집할 수 있거나 1퍼센트의 정확도로 동일한 핀에서 DC 파라미터 측정을 수행하여 케이블 연결을 단순화하고 테스트 시간은 줄이며 테스트 장비의 밀도는 높여준다.
또한 테스트 중인 디바이스와 연결되는 케이블과 트레이스 길이가 다르기 때문에 발생하는 문제를 해결할 수 있는데, 그 방법은 타이밍을 자동으로 조정하는 내장된 타이밍 교정 기능을 이용하여 타이밍 스큐를 거의 제거하는 것이다. 그리고 보다 높은 정밀도를 위한 스위치 모듈 옵션을 제공하기 때문에 하드웨어 또는 소프트웨어 트리거를 기반으로 파라미터 측정을 트리거링할 수 있다.
엔지니어들은 초당 600,000개 샘플의 샘플링 속도를 이용하여 측정 시간을 절감할 수 있으며, 디바이스의 중요한 과도현상 특성을 캡쳐할 수 있다. 또한 NI PXIe-4141에는 주어진 로드에 대한 SMU 출력 응답을 직접 조율하는데 사용할 수 있는 차세대 SourceAdapt 기술이 있어 최대 안정성과 최소의 transient 시간을 구현할 수 있다. 기존 아날로그 SMU 기술로는 이 기능을 구현할 수 없다.
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